使用偏光顯微鏡的注戀事項
發布人：shpuda發布時間：2014/2/20
在使用偏光顯微鏡對寶石的光性、軸性進行側試的過程中，要注意其適用范圍及影響因素。
(1)用偏光顯微鏡側試的樣品必須是透光性好(透明至半透明)，用于觀察干涉圖的樣品必須是透明的。
(2)樣品不能太小，否則難以觀察和解釋。
(3) 測定光軸時，樣品在載物臺上的位置要避免樣品的光軸方向與觀察方向一致。因為光波沿光軸方向傳播時不發生雙折射，此時轉動360°，視域也是全暗的。因此，除了轉動寶石外還應轉換寶石的方位，以排除因光線沿光軸方向傳播造成的假象。
(4)側試光軸時，寶石必須是透明的非均質體單晶。弧面形或圓珠形樣品無需加透鏡或干涉球也可出現干涉圖(但觀察方向筋大致沿光軸方向)。
(5)具高折射率且切工好的樣品(如鉆石、合成碳化硅、桔石)應將臺面朝上，若臺面向下與載物臺接觸，會因全反射使視城全暗.誤導觀察結論。
(6)其有策片雙晶的樣品或拼合石都可因不同部分消光方位不同而出現視域全亮。因此.觀察時應排除其影響因眾。多裂晾或多包班體的樣品，因光在其中傳播受到影響，導致視域明暗變化不正常。
(7)有些均質體寶石如石榴石、玻璃、尖晶石、琥珀、歐泊等，可能出現許多不同的異常雙折射現象，最好用二色鏡、折射儀、顯徽鏡等進行驗證。
(8)黑十字形異常消光圖無干涉色圖(如玻璃)，而一軸晶干涉圖卻是黑十字與干涉色圈同時出現，應注競區別，以免很淆。
(9)側試時最好周圍無其他干擾光源，以免影響測試結果。
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