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　　在透射電鏡中待觀察樣品被制成薄膜狀，利用入射電子束與它作用后的透射電子作為信號，依靠電子透鏡將其聚焦成像，并經多級放大，最后在熒光屏或照相底片上給出所要的圖象.
　　透射電子共有三類。但是必須指出透射電鏡成像所利用的是，三者中與樣品性狀關系最密切的透射式彈性散射電子。因為研究表明重元素對電子的彈性散射幾率大，而且這類電子大多數分布在大散射角處.此外，樣品厚度越大者，這種散射也越多。如果樣品是晶體，即其原子排列整齊并有一定周期性，那么它與電子起作用的不只是一個個孤立的原子，而要考慮晶體的整個周期勢場的作用。作用后的彈性散射電子更有一些特征，它們能形成反映祥品結構特點的衍射圖。總之，透射電鏡的基本原理無非是如何控制并利用這三類透射電子，尤其是其中的彈性散射電子.
　　如果在透射電鏡的主機上再配備其他一些附件，如X射線能譜儀，電子能量損失譜儀等，有針對性地檢測電子與樣品作用后產生的其他信號。那么，在觀察樣品形態、結構的同時，還可進行其他多種分析.這就是當代電鏡的另一個重要分支方向—分析電鏡(AEM)。