偏光顯微鏡試樣超薄片的制備
發(fā)布人：shpuda發(fā)布時(shí)間：2014/1/17
超薄片的磨制工藝與薄片相似，只是對(duì)粘結(jié)劑和磨料有特殊的要求，再加上細(xì)心的操作即可獲得合格的超薄片。
試樣薄片的粘結(jié)劑是加拿大樹膠，其結(jié)合力較弱且較脆，繼續(xù)研磨時(shí)極易碎裂和剝落，未達(dá)超薄片厚度就被剝落殆盡，很難制成超薄片。實(shí)臉證明，用618號(hào)環(huán)氧樹脂，以鄰苯二甲酸為固化劑的枯結(jié)劑，可得滿意結(jié)果，因?yàn)檎持?qiáng)，固化后在研磨及她光過程中不易脫落，只是折射率不標(biāo)準(zhǔn)。
超薄片的厚度只有0.01 -0.02mm，精磨時(shí)的金剛砂校度不得超過0.01mm，最終用的粒度應(yīng)為1μm，嚴(yán)格時(shí)應(yīng)為0. 5μm，載玻璃片必須平整，厚度約為1.2mm左右，粘片用力應(yīng)均勻，并經(jīng)多次掀服趕出多余粘結(jié)劑和氣泡。
偏光顯微鏡對(duì)晶體的光學(xué)研究可歸納為:研究在傳播方向互相平行的平行光線照射下，晶體的光學(xué)性質(zhì)和在聚斂傳播的聚斂偏光線照射下晶體的光學(xué)性質(zhì)。
上一篇：偏光顯微鏡之平行光線下晶體的光學(xué)性質(zhì)下一篇：晶體薄片在偏光顯微鏡下顯示的光學(xué)性質(zhì)