正交偏光顯微鏡下晶體的光性特征
發布人：shpuda發布時間：2014/1/20
(1)消光現象。晶體在正交偏光下呈現黑暗的現象，稱為消光現象。消光現象有兩種情況:
1)全消光。當光波通過的是晶體光率體的圓切面，由于光波可沿圓切面的任意方向振動，因此，來自下偏光顯微鏡的光波通過晶體光率體的圓切面后與上偏光振動方向垂直而不能透出上偏光顯微鏡，使得晶體光率體的圓切面方向變成黑暗;旋轉物臺360°，這種黑暗現象始終存在，稱之為全消光:均質體如非晶體、等軸晶系晶體和非均質體垂直于光軸的切面均有全消光現象。
2)四次消光。當光波通過的是晶體光率體的橢圓切面，當橢圓切面的長、短半徑方向與_上、下偏光顯微鏡的振動方向一致時，來自下偏光顯微鏡的光波沿橢圓的長、短半徑方向透過晶體而與上偏光垂直，不能透出上偏光顯微鏡，使晶體對應的橢圓切面方向變成黑暗。旋轉物臺360°，這種黑暗現象只有在光率體橢圓切面的長短半徑方向與仁下偏光方向一致的4個位置存在，故稱4次消光。非均質體如中、低級晶族晶體的非圓切面都存在著4次消光的特征。
非均質體的橢圓切面在正交偏光下處于消光時的位置，稱消光位。晶體光率休切面處于消光位就意味著該橢圓切面的長、短半徑與上，下偏光鏡的振動方向平行。
根據晶體處于消光位時，解理紋、雙晶縫或邊棱與目鏡十字絲的關系，可將非均質體的消光分力下述3種:
I)平行消光。晶體處于消光位時，解理紋、雙晶縫或邊棱與目鏡十字絲之一平行。
2)斜消光。晶體處于消光位時，解理縫、雙晶縫或邊棱與目鏡十字絲斜交。
3)對稱消光。在具有兩組解理的切面上，當晶體處于消光位時，目鏡十字絲平分兩組解理的夾角。
三方、四方、六方晶系晶體的切面以平行消光和對稱消光為特征。斜方晶系晶體切面以平行消光和對稱消光為主要特征，同時也可見斜消光切面。單斜晶系切面以斜消光為主，特征方位的切面方可見平行和對稱消光。三斜晶系的切面均為斜消光。
(2)干涉現象。自然光通過下偏光顯微鏡以平面偏光進人樣品薄片后，由于非均質體的雙折射.分解成振動方向垂直，傳播速度不同的兩種偏光，它們透出薄片的光程不同，存在光程差.傳至上偏光顯微鏡時，導致光的干涉效應。
如果采用白光照明，晶體在保持原形貌情況下呈現各種各樣的色彩.稱之為干涉色。
干涉色的種類，只與透過薄片的兩束偏光的光程差有關。當光程差為零時，干涉色為黑色，光程差逐漸增加，干涉色有規律地順著下列次序變化:鋼灰、藍灰、灰自、自、黃白、亮黃、橙黃、紅、紫、紫藍、藍、藍綠、綠、黃綠、橙黃、鮮紅、淡紫、灰藍、翠綠、淡黃、淡紅、淡藍、淡綠……高級白(詳見于涉色色譜表)。(非原創)
上一篇：從偏光顯微鏡下的樣品表面獲得的資料多下一篇：掃描電子偏光顯微鏡的基本原理